USB 3.0在2008年即已完成标准定义，在USB 2.0的广大基础下，市场对USB 3.0十倍速方案的成长非常看好，也吸引众多厂商一窝蜂的投入抢市。然而，正因十倍速的高速传输特性，造成从芯片到系统、设备等各个层面都需要重新设计与测试的难题，大大拖累整个市场建置与接受的速度。
     如今标准、芯片组、驱动程序等问题虽然已大致获得解决，但在系统、设备的设计上，仍有一些难解的实务议题待克服。这些难题大多围绕在讯号的干扰与传输衰减上，包括串音、电磁干扰（EMI）和射频干扰（RFI）等三大干扰问题，以及高频传输及大电流传输的讯号衰减问题。
     很显然地，USB 3.0要真正起飞，得好好先搞定系统设计上的种种问题。台湾无疑是USB 3.0的技术重镇，只要能顺利突破这些问题，相信就能更快享受到USB 3.0成长带来的果实。为此，CTIMES技术论坛特举办《USB 3.0干扰/衰减测试及解决策略》，邀请最具代表性的测试与设计实务专家，与业者共同探讨这些关键性的开发议题。

授課對象：从事USB3.0相关产品设计规划，并要求提升产品功能、效能之系统、电路、芯片工程师，或产品经理、采购、市场研究员
報名費用：定价2,800元;早鸟价1/3日前2,300元; 团体三人以上2,000/人
报名/洽询：02-2585-5526 分机 335 郭小姐．madeline@ctimes.com.tw
活动地点：台大集思会议中心洛克厅(台北市罗斯福路四段85号B1 (国立台湾大学第二活动中心内))MAP
活动时间：2013年1月10日(四) 13:30-16:30