河洛半導體日前推出HV-256 IC測試機，此產品針對邏輯或混合訊號IC之測試需要而設計，可透過USB 2.0和PC連結，在測試軟體環境ITE（Integrated Test Environment）下，提供工程開發、量產測試失敗分析及良率改善等功能。

河洛表示，此機支援TTL、GPIB、RS232等通訊介面，可與坊間元件分類機（如HI-LO HL-930等）或晶圓針測機（如TSK Prober）連結，可對16個待測元件同時進行測試量產。

HV-256 IC測試機可進行DC、AC及功能性測試。256個測試通道可提供電壓表、電壓/電流檢測、恆壓、恆流源流出／流入、上拉／下拉電阻、主動負載、時間參數測量、並內建任意波形產生器及波形量化器等功能，提供高規格性價比。機台體積精簡，能因應待測IC特定需求，具客製化之彈性。