河洛半导体日前推出HV-256 IC测试机，此产品针对逻辑或混合讯号IC之测试需要而设计，可透过USB 2.0和PC链接，在测试软件环境ITE（Integrated Test Environment）下，提供工程开发、量产测试失败分析及良率改善等功能。

河洛表示，此机支持TTL、GPIB、RS232等通讯接口，可与坊间组件分类机（如HI-LO HL-930等）或晶圆针测机（如TSK Prober）链接，可对16个待测组件同时进行测试量产。

HV-256 IC测试机可进行DC、AC及功能性测试。256个测试信道可提供电压表、电压/电流检测、恒压、恒流源流出／流入、上拉／下拉电阻、主动负载、时间参数测量、并内建任意波形产生器及波形量化器等功能，提供高规格性价比。机台体积精简，能因应待测IC特定需求，具客制化之弹性。