吉時利(Keithley)儀器公司發表6.1版互動式KTEI量測軟體，適用於4200-SCS半導體特性分析系統。新版KTEI 6.1軟體增強了吉時利4200-PIV的脈衝I-V能力，並顯著改進脈衝和DC測量的相關性。

脈衝測試正成為日益重要的新特性分析技術。高速脈衝避免了自加熱效應可能造成的損壞，並應用於新半導體材料和元件的特性分析，例如高k柵層疊特性分析中的電荷俘獲。吉時利4200-PIV將4200-SCS的能力擴展至包含脈衝發生和分析的領域，適用於材料和元件特性分析。

此外KTEI V6.1整合了用於吉時利3400脈衝產生器的驅動程式，該驅動程式使吉時利4200-SCS能無縫整合3400脈衝發生器到測試環境中實現多種脈衝功能。KTEI V6.1為易用、可現場安裝的軟體升級。