吉时利(Keithley)仪器公司发表6.1版交互式KTEI量测软件，适用于4200-SCS半导体特性分析系统。新版KTEI 6.1软件增强了吉时利4200-PIV的脉冲I-V能力，并显著改进脉冲和DC测量的相关性。

脉冲测试正成为日益重要的新特性分析技术。高速脉冲避免了自加热效应可能造成的损坏，并应用于新半导体材料和组件的特性分析，例如高k栅层迭特性分析中的电荷俘获。吉时利4200-PIV将4200-SCS的能力扩展至包含脉冲发生和分析的领域，适用于材料和组件特性分析。

此外KTEI V6.1整合了用于吉时利3400脉冲产生器的驱动程序，该驱动程序使吉时利4200-SCS能无缝整合3400脉冲发生器到测试环境中实现多种脉冲功能。KTEI V6.1为易用、可现场安装的软件升级。