安捷倫科技近日表示，將於2010年3月12日於新竹煙波大飯店，舉辦【2010半導體先進量測論壇】，會中將深入剖析向量分析的新知與技術。

半導體技術的進展，扮演著近來資通訊產品不斷推陳出新的重要推手，相關的元器件為了提升效能並因應環保節能的趨勢，三高（高速High-Speed、高頻High-Frequency、高壓High-Voltage）、非線性（Non-linear）應用與信號完整性（SI，Signal Integrity）已成為半導體領域的新興議題與挑戰。在半導體相關領域，先進且有效率的量測與驗證方案，確實成為加速研發並確保製造品質的關鍵。

安捷倫表示，今年第一波的半導體盛會旨在結合知名產業協會，及市場上多家量測設備供應商的豐富資源，提供所有參與半導體相關研發及製造的夥伴們，最即時的產業資訊及最新且完整之測試與驗證解決方案。此場活動之協辦單位包括STAr思達科技、Cascade康思德精密科技、SEMI(國際半導體設備材料產業協會)。除了豐富的主題分享外，現場亦備有實機展示攤位及驚喜實用好禮，有興趣的朋友可至http://www.home.agilent.com/agilent/eventDetail.jspx?cc=TW&lc=cht&ckey=1788709&nid=-11145.0.00&id=1788709瞭解完整訊息及線上報名。