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福雷電子採用惠瑞捷V93000射頻測試系統
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎 報導】   2008年03月06日 星期四

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惠瑞捷(Verigy)宣佈,半導體測試服務供應商之一福雷電子(ASE Test)已採購Verigy Port Scale射頻(RF)測試解決方案,測試客戶的高整合度無線通訊元件。福雷電子專精於為全球的整合元件製造廠(IDM)及IC設計公司,提供各種測試服務。

日月光集團營運長吳田玉表示:「我們投資最高品質的測試解決方案,以最先進的新技術,持續提供客戶最佳的測試服務。我們的客戶已經採用V93000 Port Scale射頻測試解決方案,測試最新、最先進的手機晶片組。這是我們利用Port Scale射頻測試解決方案從事生產測試的第一個元件,我們對Port Scale的性能表現與結果的品質感到相當滿意。」

惠瑞捷股份有限公司業務與服務支援副總裁Pascal Ronde說:「我們很高興能夠拓展與福雷電子的合作關係,福雷電子最近的採購行動充分顯現出業界肯定Port Scale RF是全世界最先進的射頻測試解決方案。福雷電子今後將可以為客戶測試各種複雜的射頻系統單晶片(RF-SoC)以及射頻系統級封裝(RF-SiP)IC,包括最新的3G和4G技術。」

關鍵字: 射頻測試  無線通訊  RF-SoC  3G  惠瑞捷  福雷電子  無線通訊測試 
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