NI國家儀器近日於台南、新竹、台北分別舉辦2016自動化測試與量測技術研討會，透過系列講座與實機展示，剖析自動化測試與量測的最新趨勢、分享PXI平台如何協助客戶進入物聯網時代及提供有效管理巨量類比資料(Big Analog Dara)的解決方案。

NI國家儀器近日於台南、新竹、台北分別舉辦2016自動化測試與量測技術研討會，透過系列講座與實機展示，剖析自動化測試與量測的最新趨勢...

隨著物聯網時代的到來，市場對智慧裝置的需求不斷攀升，多功能、複雜化及產品生命週期逐年縮短儼然為大勢所趨；面對此趨勢，工程師們須採用更智能化的量測與測試方式，才能進一步提升研發能量並縮短產品上市時程。根據市場研究機構Gartner預估，2016年全球將有高達64億個物聯網裝置，其中4億個為消費性裝置，面對如此強勁的需求，NI提供工程師開放式且彈性佳的PXI自動化測試平台，協助光電產業、半導體產業、車用業者、製造業及學術界的合作夥伴們，降低測試智慧裝置的複雜度、縮短測試與量測的時程，並加速驗證及產線的量產。

為了幫助工程師簡化平行測試與測項排程的過程，並提升智慧裝置在量測上的精準度與速度，NI近日推出業界最高精度的NI PXIe-4135 電源量測單元 (SMU)，提供10 fA的量測靈敏度與高達200 V的電壓輸出，讓工程師可透過其靈活彈性、高通道數密度、絕佳的測試輸出率量測低電流訊號，並執行晶圓參數測試、材料研究、低電流感測器與 IC 的特性測試等多種應用。如此不僅可減少測試時間、增加通道密度，還可提供更優良的量測品質，簡化測試系統在實驗室與生產線上的建置與佈署。

而在提升工程師測試的精準度及速度的同時，智慧裝置的導入也讓如何有效管理巨量類比資料(Big Analog Dara)、提供及時分析等需求日益上升。國家儀器行銷部葉俊寬指出，「隨著物聯網裝置的多樣化，有效管理海量資料為核心關鍵，我們必須重新思考傳統的測試方式，並了解資料截取在海量資料中的重要性。為了讓我們的合作夥伴更有效地管理巨量類比資料，NI致力與合作夥伴共同打造模組化平台，讓工程師能更簡易地在平台上於數秒內截取、自動分析資料並產出報表。」

讓工程師可善用更具智慧效能的測試與量測解決方案，協助客戶降低測試成本及縮短測試時程是 NI 的使命，藉由 NI 所提供的完整軟硬體平台，將可以更快速的解決客戶所面臨的挑戰，並為產業帶來更好的智能化測試與量測環境。