NI国家仪器近日于台南、新竹、台北分别举办2016自动化测试与量测技术研讨会，透过系列讲座与实机展示，剖析自动化测试与量测的最新趋势、分享PXI平台如何协助客户进入物联网时代及提供有效管理巨量类比资料(Big Analog Dara)的解决方案。

NI国家仪器近日于台南、新竹、台北分别举办2016自动化测试与量测技术研讨会，透过系列讲座与实机展示，剖析自动化测试与量测的最新趋势...

随着物联网时代的到来，市场对智慧装置的需求不断攀升，多功能、复杂化及产品生命周期逐年缩短俨然为大势所趋；面对此趋势，工程师们须采用更智能化的量测与测试方式，才能进一步提升研发能量并缩短产品上市时程。根据市场研究机构Gartner预估，2016年全球将有高达64亿个物联网装置，其中4亿个为消费性装置，面对如此强劲的需求，NI提供工程师开放式且弹性佳的PXI自动化测试平台，协助光电产业、半导体产业、车用业者、制造业及学术界的合作伙伴们，降低测试智慧装置的复杂度、缩短测试与量测的时程，并加速验证及产线的量产。

为了帮助工程师简化平行测试与测项排程的过程，并提升智慧装置在量测上的精准度与速度，NI近日推出业界最高精度的NI PXIe-4135 电源量测单元(SMU)，提供10 fA的量测灵敏度与高达200 V的电压输出，让工程师可透过其灵活弹性、高通道数密度、绝佳的测试输出率量测低电流讯号，并执行晶圆参数测试、材料研究、低电流感测器与IC 的特性测试等多种应用。如此不仅可减少测试时间、增加通道密度，还可提供更优良的量测品质，简化测试系统在实验室与生产线上的建置与布署。

而在提升工程师测试的精准度及速度的同时，智慧装置的导入也让如何有效管理巨量类比资料(Big Analog Dara)、提供及时分析等需求日益上升。国家仪器行销部叶俊宽指出，「随着物联网装置的多样化，有效管理海量资料为核心关键，我们必须重新思考传统的测试方式，并了解资料截取在海量资料中的重要性。为了让我们的合作伙伴更有效地管理巨量类比资料，NI致力与合作伙伴共同打造模组化平台，让工程师能更简易地在平台上于数秒内截取、自动分析资料并产出报表。 」

让工程师可善用更具智慧效能的测试与量测解决方案，协助客户降低测试成本及缩短测试时程是NI 的使命，藉由NI 所提供的完整软硬体平台，将可以更快速的解决客户所面临的挑战，并为产业带来更好的智能化测试与量测环境。