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NEC成功开发PoP层迭封装技术
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2008年03月07日 星期五

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NEC采用BGA封装,开发出可自由开发和生产PoP(Package On Package;层迭封装)的高密度封装技术。目前该公司已经采用这一技术成功试制两层的DDR2 SDRAM内存模块。该技术无需大型检测设备、夹具(Jig)和工具,因此设备厂商可自行组装PoP。而NEC也计划在2008年上半年推出以此技术开发的大容量内存模块。

此种PoP技术,应用了NEC所开发,能够以裸晶进行三维封装的FFCSP(flexible carrier folded real chip size package)技术。将FPC底板作为转接板(Interposer),FPC与BGA封装相连后,透过过弯曲转接板即可使封装侧面和上部接合。如此便实现了在封装上下两侧配备外部接角的结构。在封装的上部另外层迭BGA封装,即可组装PoP。透过FPC可自由层迭外形和外部端子各不相同的LSI芯片。

为了强化BGA封装端子的锡球和FPC间的空隙,还开发能不对BGA封装外部端子施压便可弯曲FPC的技术。进而将封装外部端子的表面厚度控制在0.1mm以下。如此在板卡(Board)封装时,能以低成本提高良品率。

關鍵字: POP  BGA  NEC 
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