安捷倫科技日前針對Agilent 16760A邏輯分析模組，推出了眼狀掃描（eye scan）模式。這項功能可讓高速數位硬體的設計師，取得在各種不同操作情況下設計的所有匯流排信號的完整資訊。這個模組也能將收集有關信號完整性的資訊之時間，從幾天縮減到幾個小時。眼狀掃描模式可讓使用者在多種操作情況下，例如執行不同的軟體常式，或以不同的資料負載來激發系統時，同時檢視數百個電路節點的眼圖。在眼狀掃描模式下，Agilent 16760A邏輯分析模組會針對以時脈為主的一個時間範圍內，且涵蓋信號的整個電壓範圍之活動，掃描其所有接收到的信號。顯示結果的方式，與示波器上所看到的眼圖很類似。

Agilent 16760A邏輯分析模組提供完備的信號量測，可大幅縮減資料蒐集時間達多天之譜。

Xilinx 系統工程處長Ed McGettigan表示：「當數位系統的複雜度與速度皆提高時，就更有必要驗證信號的完整性。舉例來說，在單一設備提供多個高頻寬LVDS匯流排的幾百萬個閘，都會採用場式可程式閘陣列（FPGA），如Xilinx所提供的Virtex-II系列。工程師通常沒有時間利用傳統的示波器來執行所有必要的量測，以確認信號的完整性。眼狀掃描是Xilinx能夠同時從許多頻道收集眼圖的唯一一種量測技術。它能夠同時對數百個信號進行眼狀量測，以提高信號完整性的可靠度。」

眼狀掃描模式是成功的16700邏輯分析儀系列中新增的一項功能，可為使用者提供完善的系統層級除錯能力，最適合用於多個處理器/匯流排的設計。