全球測試、量測和監控儀器廠商Tektronix宣布，該公司的RSA6114A即時頻譜分析儀，已成功部署於由日本經貿產業省(METI)簽署的UHF頻帶標籤測試作業。此項測試的目標是要解決真實世界的技術問題，和建構精密的操作模式，以及針對UHF頻帶RFID標籤的全方位準備，制定與使用有關的必要準則與規則。顯示在RSA6114A上的即時RF頻譜，可讓研究人員在取得RFID通道時，觀察成功或失敗。

日本預備採用Tektronix RSA6114A分析儀量測UHF頻帶RFID標籤（來源：廠商）

在數位RF應用上(例如RFID)，使用了多種不同的頻率與調變方法，每一種都需要特定的量測技術種類。對於如脈衝RF訊號或跳頻系統中的載頻，在訊號可能即時變化的情況下，想利用傳統掃描頻譜分析儀，準確進行有意義的量測是很困難的。

日本自動化辨識系統協會(JAISA)也在2006年執行電子標籤測試，當時的情況發現，由於兩個技術問題，導致無法有效執行讀取。第一種狀況是「標籤混淆」，在多廠商環境且空間有限的情況下(例如倉庫或配電設施)使用UHF頻帶電子標籤系統時，因相互干擾而導致訊號傳輸瑕疵。第二種狀況，是在即時讀取電子標籤時(例如高速傳送帶)，維護效率方面發生了問題，這是因為，當讀取器旁邊有另一個讀取器使用相同通道時，該讀取器無法正確運作的緣故。RSA6114A完成了最近的測試部署，以解決這些問題並隨時為這些環境設想。

JAISA R&D中心的RFID人員Hiroshi Nakahata表示：「經過JAISA的初次測試之後，我們發現，Tektronix RSA6114A即時頻譜分析儀，是一部相當有效率的量測裝置，因為它能即時直接以視覺化來確認UHF頻帶RFID。傳統頻譜分析儀的資料，不能在時間表(timeline)上檢視，因此無法辨識在讀寫器和ID卡之間傳輸的資料，所以利用傳統頻譜分析儀來分析通訊狀態，就成了不可能的任務。Tektronix即時頻譜分析儀解決了這個問題。」

此測試需要使用具備廣泛動態範圍的高效能即時頻譜分析儀，Tektronix RSA6114A即時頻譜分析儀在執行這項工作時，成功的扮演了這個重要角色。為了避免標籤混淆所做的實驗，可從量測讀取器裝置的高功率傳輸訊號，及電子標籤的微弱回應訊號，觀察到標籤混淆現存的問題。為了判斷即時有效性，DPX波形影像處理器，可以即時RF頻譜顯示，讓所有通道的讀/寫及標籤行為，都能得到即時確認。使用即時RF頻譜即時顯示通道擷取狀態，可在取得通道時，觀察是否成功或失敗。

未來METI將持續執行更多的UHF頻帶電子標籤傳播測試，而且計畫使其與目前規劃中的實際標籤系統相容。關於所使用的方法細節及此測試的結果，在METI承包商Mizuho Information & Research Institute公司的「確認UHF頻帶電子標籤系統相互干擾與作業之研究」報告中皆有詳述。此研究報告已發表於METI網站：http://www.meti.go.jp/policy/it_policy/tag/2006_UHF_research_1.pdf。