美商吉時利儀器（Keithley）日前發表ACS Basic Edition，以及支援元件測試應用的特性分析和曲線掃瞄軟體。最新版ACS Basic Edition軟體進一步壯大Keithley的自動化特性分析套件（ACS）陣容，搭配Keithley SourceMeter系列產品的電源量測單元（SMU），可取代老舊的曲線掃瞄儀器，透過單一解決方案執行基本的曲線掃瞄及參數測試，並將成本壓至極低的水準。

元件測試方案

初期的ACS系統是針對大型晶圓探針台以及規模較大的晶圓測試應用所設計；而ACS Basic Edition鎖定桌上型的元件測試應用，這類應用雖不需整合式探針設備，但仍需要ACS平台提供的量測與軟體自動化功能。ACS Basic Edition提供一套龐大的資料庫，內含許多預設的元件測試程序，不僅能縮短啟動時間、減少程式碼的撰寫，還能簡化測試流程。ACS Basic Edition結合了簡單易用的曲線掃瞄儀，以及參數分析儀的分析功能，任何人都可透過ACS Basic Edition輕鬆對一個半導體元件進行測試，並立即進行特性分析曲線與參考曲線的比較。