半導體科技的快速發展，導致傳統的測試與修復設備，難以跟上SoC效能及成本的需求；Virage Logic公司日前推出一個SoC內嵌記憶體系統，此系統同時具備測試(BIST)與修復(BISR)的功能。根據Virage Logic總裁Adam Kablanian表示，「STAR Memory System」是業界第一個可以提供完整SoC內嵌式記憶體的測試與修復的方案，這將可以使客戶減少量產的時間，並同時提高良率。STAR Memory System已經接獲訂單並交貨給客戶使用。

對SoC設計工程師而言，他們需要一套好的方式來測試並修復以提高內嵌記憶體的良率，而STAR Memory System已經將這些功能內建在電路上，所以將不再需要使用昂貴的Memory Tester或Laser Repair Machine，因此減少測試程式的開發時程與縮短產品上市時程。

根據Anoop Khurana技術副總裁表示，「Virage Logic的STAR Memory System不僅減少測試與修復的成本，同時也節省數週的設計與開發時程；因為從Tape Out到量產的時間大大的縮短，這有助於縮短新產品上市的時程！」