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Tektronix USB3.0測試方案 促使相容裝置更快上市
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍報導】   2010年01月20日 星期三

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Tektronix今(20)日宣佈,該公司的SuperSpeed USB解決方案,支援NEC Electronics USB 3.0相容主機控制器的訊號品質驗證作業,這是獲得USB設計論壇(USB Implementers Forum)認證的USB 3.0產品。

NEC Electronics與Tektronix通力合作,共同驗證該公司的新式矽元件,以符合新興SuperSpeed USB標準(USB3.0)的需求。USB技術已經迅速成為公認的用於連接電腦和周邊設備的業界標準,與其他一些最先進的高速介面(如PCI Express 2.0和SATA Gen 3)比較,SuperSpeed USB 3.0的資料速率高達5Gbps,其效能足以應付更複雜的量測挑戰。

Tektronix表示,若要解決這些挑戰,必須使用性能和彈性具佳的儀器,以及能提供速度及簡化設計工作、量測步驟與分析的工具,Tektronix USB 3.0測試解決方案能提供工程師像NEC Electronics工程師一樣的能力,除了為他們的USB裝置進行特性分析、除錯和相容性測試外,還可自動進行邊際量測和相容性測試。Tektronix AWG7122B任意波形產生器可針對關鍵的USB 3.0接收器邊際測試,提供訊號產生彈性,協助USB 3.0相容產品更快上市。

Tektronix SuperSpeed USB相容性解決方案是以儀器為基礎所建置(即時取樣示波器、任意波形產生器等等),能提供滿足高速串列協議所需的量測效能。例如DSA71254B即時示波器,提供一個高頻寬、低雜訊的環境,以準確擷取並分析快速串列訊號時脈率。AWG7122B任意波形產生器同樣也提供包含應力的複雜波形,可模擬傳輸路徑的遞減效果,以支援接收器測試。這些硬體工具搭配專業軟體應用,如DPOJET抖動與眼圖分析工具、SerialXpress先進抖動產生工具,以及TekExpress USB 3.0自動化相容性測試軟體,以提供設計人員所需的設計驗證和除錯工具。

關鍵字: USB3.0  Tektronix(太克NEC 
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