帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
NI發表多款PXI儀器設備
 

【CTIMES/SmartAuto 王岫晨報導】   2004年07月14日 星期三

瀏覽人次:【1660】

NI(National Instruments)利用日前在台北所舉辦的“2004年大中華區PXI技術和應用論壇”發表多款PXI技術的模組化儀器。這些模組化的儀器為每秒100MS的混合性訊號平台,包括PXI-5122高解析度數位器、PXI-5421任意波形產生器與PXI-6552數位波形分析儀等儀器。

1997年,NI爲測試和量測領域起草了一個新的解決方案,並命名為PXI(PCI extensions for Instrumentation),是一種專爲測試任務所開發的CompactPCI。1998年,NI與其他測試設備廠商合作的PXI系統聯盟將PXI定義爲一個開放的工業標準進而推向市場。NI以該聯盟最主要的發起成員(Sponsor Member)的身分來定義並監督PXI産品的規格標準。

時至今日,PXI已經成爲當今測試、量測和自動化應用的標準平臺。它的開放式構架、靈活性和PC技術的成本優勢爲量測和自動化產業帶來了一場顛覆性的改革。而從産品發展趨勢和用戶接受程度來看,PXI所帶來之影響已經遠遠超越了當年VXI的發展。PXI是一個開放的標準平臺,擁有超過80餘家廠商參與PXI系統聯盟,並已經提供超過1000多種的産品,共同支援和推動這一標準。

PXI利用新一代的PC與商業化A/D技術提升量測效能,連結到具備132MB/s性能的PXI與PCI匯流排,能獲得百倍於傳統以GPIB為主的儀器控制的產量。藉由專屬的數位匯流排,來從事多種測試與量測平台所需的完整時序以及同步化模式。另外,PXI介面可與先進的應用開發環境及測試管理工具整合,以提高彈性與可擴充性。

關鍵字: PXI  NI  儀器設備 
相關產品
簡化5G PA驗證 MaxLinear與NI整合射頻演算法與IC測試軟體
NI 發表 LabVIEW NXG 的新功能 推出快速、靈活且適用於網路的功能
NI推出滿足5G NR研究與系統原型製作的全新mmWave Radio Head
NI擴充RFIC測試功能以因應NB-IoT與eMTC標準
NI 推出Sub-6 GHz 5G新空口參考測試方案
  相關新聞
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
» DEKRA德凱斥資10億新建總部與實驗室 提供一站式測試檢驗服務
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BA50Y1B4STACUK0
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw