能高電子於今日（1/31）宣佈，將於二月推出更新版本之四款PXI平台IC測試模組。能高電子有鑑於今日IC不斷快速變化的環境中，苦於現有ATE銜接不上的窘境，該公司將產品規格、特性做一區隔，讓使用者可依照自身需求，自行選購並組裝適合之模組。

該新推出的四款PXI平台IC測試模組，最高時脈包含50,66,100MHz三種,邏輯準位相容於-1 ~ +7V、每一邏輯腳位訊號卡分別有8,16,32個I/O通道，I/O通道配備有16M及64M二種。其中，PE32C型號之模組，並內建觸發與Pattem排序的功能。除具備半導體邏輯測試基本功能外，亦可當做資料截取(data capture)使用、價格實惠適合於實驗室驗證。

而PE32H型號方面，並包含有16組的時序設定、16組的波型設定。內容4 PMU可供參數量測。新增8k測試紀錄之容量，能同時截取或紀錄結果資料。另外，第三款的PE16型號模組，採用Per-pin架構設計，除了提供256I/O sets使用外，Active Load 與Per pin PMU之全功能半導體邏輯測試。新增“Dual site“ 模式可將一片PE16，分做兩個8通道使用。適合於高階運用。第四款PEMU8型號的模組適合於量測高壓產品或當PMU/DPS使用。