账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
安捷伦最新BGA内插器可结合逻辑分析仪进行DDR4设计探量
同步推出第二套适用于DDR3 x16 DRAM设计之内插器探量解决方案

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2014年06月23日 星期一

浏览人次:【3885】

安捷伦科技(Agilent Technologies Inc.)日前宣布推出两套内插器解决方案,可结合使用全球最快的逻辑分析仪,对DDR4和DDR3 DRAM设计进行测试。这两套内插器解决方案可快速而准确地撷取位元位址、指令和资料信号,以进行设计除错并验证量测。

Agilent W4633A BGA内插器结合Agilent E5849A探棒,可探量资料速率更高的DDR4 x4或x8 DRAM设计。利用Agilent W3636A BGA 内插器,工程师可针对2G以上容量的非堆叠DDR3 x16 DRAM进行探量。

随着记忆体的处理速度提高到DDR4的3.2Gb/s资料速率,工程师在设计应用于伺服器和嵌入式装置的新一代记忆体系统时,面临着极大的挑战。准确的探量和信号撷取成为日益重要的关键要素,以进行新设计除错和验证。

新的内插器解决方案可以直接存取DDR4 x4 或x8 DRAM BGA焊球,如此既可确保低负载,又能尽量减少对嵌入式系统设计信号完整性的影响。该探棒适用于现有的设计,可省下预先规划的时间并且避免重新设计。另外,两套新的内插器解决方案可与全球最快的Agilent U4154A 逻辑分析仪系统搭配使用,后者提供高达4Gb/s 的状态速度和高达2.5GHz 的触发序列速度。

台湾安捷伦科技电子量测事业群总经理张志铭表示:「我们的客户需要使用准确度更高的探量工具,以增强其新一代记忆体系统的资料速率并且降低功耗。藉由搭配使用DDR4 BGA内插器、E5849A探棒和U4154A逻辑分析仪系统,工程师可测试资料速率远远超出目前2400 Mb/s速率的DDR4记忆体。」

W3630A系列DDR3 BGA探棒,可搭配使用示波器、逻辑分析仪以及U4154A逻辑分析系统,以便执行资料速率高达2400 Mb/s的实体层和功能测试。

安捷伦DDR3/4测试解决方案的特色包括:

‧ B4622B DDR2/3/4和LPDDR/2/3协定相符性测试和分析工具套件结合4种不同的软体工具,让工程师能利用功能协定相符性检查软体、自动化实体位址触发设定工具,以及汇流排统计资讯和位址存取直方图,进行整体系统效能总览测试。有了这些工具,记忆体设计工程师可大幅缩短除错时间,并提高DDR设计验证工作效率

‧ B4621B DDR2/3/4协定解码器软体可将所撷取的信号转译成容易理解的汇流排资讯,以显示相关资料丛发。该软体可以解码有效的读写指令,使其包含列地址和栏位址,以及与指令相关的完整资料丛发。 B4621B汇流排解码软体可以利用预设的DDR2、DDR3或DDR4探量配置或DDR设定辅助工具的关键系统属性,加速对DDR2、DDR3 或DDR4汇流排信号进行解码。

‧ DDR眼图扫描/眼图定位软体提供独特的眼图扫描功能,可自动确定每个单独通道上眼图中时间和电压的取样点,以获得最高的取样可靠度。 DDR眼扫描显示功能可协助使用者深入分析汇流排信号完整性,并且对相同条件扫描到的所有信号进行定性比较。

‧ DDR设定辅助工具透过一系列的简短问题和下拉式选单,引导使用者在DDR2/3/4/或LPDDR2/3/4量测过程中,进行状态模式量测中的各项设定。

‧ DDR配置程序建立工具是安捷伦DDR设定辅助和眼图定位软体套件中的新工具,可协助工程师根据DDR/LPDDR设定中所使用的客制探量解决方案来定义接脚布局,然后根据接脚资讯建立XML设定档。

U4154逻辑分析模组是多功能模组,具有高达4 GT/s的状态速度和2.5 GHz触发序列速度,让工程师能够信心十足地触发并撷取DDR4 3.2 Gb/s信号。如与全新的DDR4探量解决方案、B4621B解码器,以及B4622B相容性测试软体工具搭配使用,该模组可提供记忆体产业所需的完整测试功能,有助于进行系统整合。

關鍵字: 逻辑分析仪  安捷伦 
相关产品
皇晶科技逻辑分析仪升级 TravelLogic 4000系列采8通道
皇晶发表应用于逻辑分析仪之USB PD 2.0分析功能
是德科技高效能型音频分析仪新增Bluetooth音频量测功能
是德科技AXIs宽频数位接收器新增多模组同步功能
是德科技发表USB Type-C协定触发与解码软体
  相关新闻
» Anritsu Tech Forum 2024 揭开无线与高速技术的未来视界
» 安立知获得GCF认证 支援LTE和5G下一代eCall测试用例
» 资策会与DEKRA打造数位钥匙信任生态系 开创智慧移动软体安全商机
» 是德科技推动Pegatron 5G最隹化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先进电源应用套件 加速电池测试和设计流程
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BT5SWY88STACUKK
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw