账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
太克无接头逻辑分析仪探棒性能提高
 

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2004年06月07日 星期一

浏览人次:【3047】

太克(Tektronix, Inc.)日前发表P6960和P6980两款高密度无接头探棒。这两款探棒使用新的D-Max探测技术,适用于TLA700系列逻辑分析仪。这种新的D-Max 探测技术可提供更高的信道密度和讯号完整性,且探测面积比前一代小61%,电容比为0.5pF,可以保持受测讯号的完整性。

设计师在开发高速计算机、通讯及网络装置原型时,通常会在电路设计中包含探棒探测点。这些探测点将几百个接集中到中央「探测」点,以便解决问题和评估。由于电路板的尺寸愈来愈小,这些测试点必须在不增加原型成本的情况下,依比例缩小,而且存取信息的方法本身也不能影响到量测结果。

而P6960和P6980无接头探棒使用D-Max 探测技术,它耐用的新互连技术能确保安装在电路板上的测点接触良好。P6960是34个信道的探棒,具有单端数据与差动频率。P6980也是34个信道的探棒,但是除了能差动撷取频率讯号之外,还能差动撷取数据信道。新探棒的诉求对象是处理GHz以上总线速度和更小电路设计允差的数字设计师,小尺寸和高密度的探棒可以缩短线路,也容易布放探测点,可进一步节省电路板面积。

此外,D-Max 探测技术可免去原本不方便的接头套,加强连接的可靠性并减少板子上探测点的面积,同时也可降低成本。

關鍵字: 測試系統與研發工具 
相关产品
意法半导体车载音讯D类放大器新增汽车应用优化的诊断功能
英飞凌新款ModusToolbox马达套件简化马达控制开发
ROHM SoC用PMIC导入Telechips新世代座舱电源叁考设计
台达全新温度控制器 DTDM系列实现导体加工精准控温
Littelfuse超级结X4-Class 200V功率MOSFET具有低通态电阻
  相关新闻
» 筑波医电携手新光医院於台湾医疗科技展展示成果
» Anritsu Tech Forum 2024 揭开无线与高速技术的未来视界
» 安立知获得GCF认证 支援LTE和5G下一代eCall测试用例
» 资策会与DEKRA打造数位钥匙信任生态系 开创智慧移动软体安全商机
» 是德科技推动Pegatron 5G最隹化Open RAN功耗效率
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8C1CBLH4ASTACUKC
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw