账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
安捷伦最新的射频/微波设计与测试产品
 

【CTIMES/SmartAuto 蔡維駿报导】   2012年06月28日 星期四

浏览人次:【1865】

安捷伦(Agilent)于6月17-22日在蒙特娄会议中心举办的2012年IEEE MTT-S国际微波研讨会中,展示旗下适用于先进射频/微波电子的研发与制造之最新设计与测试产品。

台湾安捷伦科技董事长暨电子量测事业群总经理张志铭表示:「我们对于为一般的射频/微波、4G通讯与航天/国防应用,所推出从电路层级的模型建立到系统验证的各种新测试仪器感到相当兴奋。此外,我们也很高兴与事业伙伴,一同展示一系列优质的测试解决方案。在Agilent Avenue和整个IMS展览会场中,都可以看到这些测试解决方案。」

安捷伦在IMS 2012所展示的25项新产品加上事业伙伴所提供的各种解决方案可谓相得益彰,它们为与会贵宾带来了最创新的模型建立和器件特性描述、半导体制造、晶圆和电路板量测、原型设计、天线量测、系统、测试箱与客制化ATE解决方案。

關鍵字: 安捷伦 
相关产品
是德科技高效能型音频分析仪新增Bluetooth音频量测功能
是德科技AXIs宽频数位接收器新增多模组同步功能
是德科技发表USB Type-C协定触发与解码软体
是德科技全新系列电气和工业用手持式数位万用电表
是德科技新款四通道电源分析仪提供精准化动态量测功能
  相关新闻
» Anritsu Tech Forum 2024 揭开无线与高速技术的未来视界
» 安立知获得GCF认证 支援LTE和5G下一代eCall测试用例
» 资策会与DEKRA打造数位钥匙信任生态系 开创智慧移动软体安全商机
» 是德科技推动Pegatron 5G最隹化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先进电源应用套件 加速电池测试和设计流程
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BT3SPZHMSTACUKU
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw