Tektronix日前发表模块化光测试系统系列产品的加强版与新功能。光设备制造商需要密集波长分割多任务技术（Dense Wavelength Division Multiplexing, DWDM）产品，将更多信道封包输出至光纤缆线中。这种更紧实的信道间隔可以增加现有光网络的收益能力。但在设计与制造光纤组件、组件与系统时，则需要更紧密的容许度与改善的测试方法。为了满足客户的需求，Tektronix OTS9100系列的新卡提供多种创新的功能，包括业界首创的可选择的全面整合波长 10 Gb/s 测试系统。此系统所带来的高度弹性可让客户组装低成本的测试系统配置，并可加速高容量 10 Gb/s 产品的设计与生产。

模块化光测试系统

Tektronix 光通讯事业群副总裁Rick King表示：「Tektronix 提供创新的解决方案，刺激了光市场的成长。今天，这代表提高生产力、降低成本并提供准确且一致的结果，加快低成本的下一代产品的生产。过去，10 Gb/s 传输测试器必须透过单一固定的波长运作，而用于DWDM 系统时则需要一组复杂的外部装置与许多雷射光源，如今透过OTS9100 系列的可选择波长新功能，就可以让制造商大幅地降低测试系统的成本，并缩短网络业者在设计与制造较高容量光组件时的测试设定时间。」

OTS9100 系列的新增功能包括创新的外部雷射端口，此端口可以接收来自OTS9600系列可调式雷射的刺激信号，如此一来，便不需要多种雷射源来测试多种波长或信道，而仅透过单一可调式雷射（如同用于DWDM技术），和单一插入/移除循环即可对受测装置 (device under test, DUT) 测试多种波长或信道。对于需要成本考虑的设备制造商而言，这项新功能有助于大量地节省设备成本并缩短设定时间。

外部端口不仅兼容于Tektronix OTS9600 系列雷射光源。这种端口让用户得以将现有的雷射光源连接到OTS产品系列的所有测试功能。如此一来，当制造商已有所需波长的雷射光源时，不必重新购买、取得授权与校准新设备。除了外部雷射端口之外，新光学卡还新增了双接收器电气输出功能。藉由此功能，以适当的仪器便能同步进行位错误率测试、抖动分析或物理层分析；此外，还能增强接收器信号灵敏度，并在超出实际功率水平时，提供更可靠的测量。