账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
德律科技推出TR-6010S TN/STN LCD Driver IC测试机
 

【CTIMES/SmartAuto 馬耀祖报导】   2000年02月15日 星期二

浏览人次:【4097】

从事半导体测试设备(IC Tester)及组装电路板自动化测试设备(Auto Test Equipment)已有11年经验的德律科技公司,于去年十月份推出10MHZ TR-6010数字IC测试机后,又将于今年二月份再推出专为TN/STN LCD Driver IC所设计的TR-6010S IC测试机。

TR-6010S IC Tester是专为TN/STN LCD Driver IC所设计的IC测试机,具有Function Pattern、DC及AC参数量测等功能;Pattern Memory最大可扩充至8M。Driver测试电压范围为+/-9V,Comparator测试电压范围为+/-40,且可以一次测试5阶Comparator设定电压,提高测试效率。TR-6010S IC Tester系统本身采用模块化设计,同时也可扩充具有Logic数字及Mixed-Signal混合讯号IC测试功能,并且可连接各种Prober/Handler作为量产测试。体积小、稳定性高、操作容易、完善Test Program除错环境、测试统计报表及分布图显示等特殊功能,更提高该产品的测试效率,是为目前市场价格功能比最高的IC Tester。

關鍵字: IC测试机  德律科技  零件測試儀器 
相关产品
德律推出20MHz/50MHz两款半导体测试机
德律科技于上海、深圳举办新产品发表会
德律科技举办新产品发表会
  相关新闻
» Anritsu Tech Forum 2024 揭开无线与高速技术的未来视界
» 安立知获得GCF认证 支援LTE和5G下一代eCall测试用例
» 资策会与DEKRA打造数位钥匙信任生态系 开创智慧移动软体安全商机
» 是德科技推动Pegatron 5G最隹化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先进电源应用套件 加速电池测试和设计流程
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BT59VAKUSTACUK7
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw