能高电子于今日（1/31）宣布，将于二月推出更新版本之四款PXI平台IC测试模块。能高电子有鉴于今日IC不断快速变化的环境中，苦于现有ATE衔接不上的窘境，该公司将产品规格、特性做一区隔，让用户可依照自身需求，自行选购并组装适合之模块。

该新推出的四款PXI平台IC测试模块，最高频率包含50,66,100MHz三种,逻辑准位兼容于-1 ~ +7V、每一逻辑脚位讯号卡分别有8,16,32个I/O信道，I/O信道配备有16M及64M二种。其中，PE32C型号之模块，并内建触发与Pattem排序的功能。除具备半导体逻辑测试基本功能外，亦可当做数据截取(data capture)使用、价格实惠适合于实验室验证。

而PE32H型号方面，并包含有16组的时序设定、16组的波型设定。内容4 PMU可供参数量测。新增8k测试纪录之容量，能同时截取或纪录结果数据。另外，第三款的PE16型号模块，采用Per-pin架构设计，除了提供256I/O sets使用外，Active Load 与Per pin PMU之全功能半导体逻辑测试。新增“Dual site“ 模式可将一片PE16，分做两个8信道使用。适合于高阶运用。第四款PEMU8型号的模块适合于量测高压产品或当PMU/DPS使用。