全球测试、量测和监控仪器厂商Tektronix，宣布该公司在直接合成（DS）应用方面的重要进展，此项技术可供高速串行接收器进行兼容性测试，是一个弹性又稳定的方法，可建立理想或畸变波形，接着再交由Tektronix AWG7000任意波形产生器直接合成。这可进行高速串行数据接收器精确一致的测试，进而生产出更高质量的运算与消费性电子装置。AWG7000的直接合成已被SATA Interop Workshop(IW)核准为标准的测试技术，并于2007年4月30日在加州Milpitas举办的第3场SATA-IO Interop Workshop，套用至寻求SATA IW认证的产品上。

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随着数据传输速度的持续增加，时序边缘的减少，已迫使业界采用更加严苛与全面性的测试方法。测试范围最后的范畴之一是接收器测试。此一测试的复杂性向来是主要的挑战，而取得高速NRZ产生器间的一致设定，并具备所需的标准组织规格要求畸变等级，对于成功部署这些测试实作而言是重大的障碍。使用外部的符号间干扰产生硬件，搭配混合弦波项的微波，会产生难以任意无误重现的实验室设定。AWG7000的直接合成功能，可进行稳定一致的串行数据量测，针对高速串行数据接收器兼容性测试，提供了前所未有的简易性、弹性与速度。

Tektronix技术解决方案团队经理Jit Lim表示：「设计师几乎只能完全仰赖数字数据产生器来产生供串行测试所需的二进制讯号。这些测试相当的复杂昂贵，且可能会产生不一致的结果。而在信号源领域中以Tektronix AWG7000直接合成功能处理过的新讯号，正可改变这种情况。AWG7000的直接合成功能，可让工程师创造出，透过传输线产生传播效应的讯号。上升时间、脉冲形状、延迟与偏差都可受到控制，这正是进行严苛的串行总线测试所需。」

在针对高速串行数据测试，发展和部署完整的直接合成技术方面，工程师只要叫出包含所有相关标准、要求抖动项目与讯号畸变的配置文件案，无需任何其他外部组件或所需的混合组件。AWG配置文件部署，可透过档案的电子流通来进行管理，让全世界的系统可同步化而具备共同一致的一般属性，无须额外的硬件。

Tektronix信号源产品线的营销经理Bob Buxton表示：「AWG7000的直接合成，以具竞争力的测试成本，提供了波形产生的终极弹性，相较于其他使用各种复噪声号产生机盒与模块的解决方案，具备了更佳的测试稳定性。直接合成可用以模仿任何形式的信道畸变，甚至可提供在进行整体测试设定与接线时，预先补偿讯号损耗的功能，这是所有其他数字讯信号产生产品都做不到的。」

单一AWG7000式系统所涵盖范围的多用途与广度，可针对各种广泛的技术或标准，轻松地进行设计与兼容性测试，只要按钮即可。具备10位的垂直精确度与20GS/sec的取样率，高度多用途的AWG7102可进行任何形式的复噪声号产生。从复杂的均衡计划、多重等级的发讯与预先加强、能以从零延续进行扫描ISI，到进行具数字精确度的多重UI抖动，AWG7102提供了用户前所未有的测试弹性。