长期演进（LTE）测试设备之全球供货商Aeroflex宣布为其弹性、模块化的PXI 3000平台新增LTE量测功能，新功能将使生产测试工程师能达到更快的RF零组件及LTE用户设备的量产时程。新解决方案并提升了Aeroflex之LTE测试经历，以及PXI 3000系列平台在手机制造上经验证的良率及产能优势。

Aeroflex PXI 3000系列模块测试平台。

Aeroflex PXI 3000最新的测量套件选项，适合生产及测试系统工程师使用，使他们可用低成本的模块化PXI仪器来为LTE终端、芯片组和射频零组件进行特性描述。在同一组件中，LTE终端将具备与依循旧有标准之LTE的共存性。能在单一测试平台中支持多种蜂巢式标准，便是提升良率及缩短测试时间的关键。

新量测套件藉由Aeroflex的IQCreator软件之新LTE波形产生功能而补足，其可支持PXI 3000系列以及Aeroflex 3410系列的桌上型(bench-top)数字RF讯号产生器，因此是LTE射频零组件测试的理想选择。

Aeroflex的PXI3000和7100平台有许多共同点，因此可简化从研发到制造的移转过程。同样的软件算法可为两个平台提供支持，并达到可比拟的RF效能，因此由研发工程师所采用的设备，将提供与在工厂量测具有高度相关性的结果，如此将可去除当仪器型式表现差异所引起的延迟，其将需要费时的故障排除工作来克服差异。

全球即将针对LTE网络的部署，以及预期4G服务所带来的强大消费需求，代表量产制造的提升必须由弹性的测试解决方案所支持以强化产能。PXI 3000平台透过缩减测试时间和成本达到此目的，其能使未来的产能得以扩张，同时维持与在研发系统中可比拟的效能与精准度。