Microchip今天发布新一代相位杂讯分析仪，产品型号为53100A。这款相位杂讯测试仪可协助研发人员和制造工程师更精确地测量频率讯号，包括由原子钟产生的讯号，以及由其他高频叁考模组和子系统产生的讯号。

Microchip新一代相位杂讯仪结合了多种精确计时技术，体积更小，效能更高

新推出的53100A型相位杂讯分析仪专为工程师和研发人员设计。他们的工作高度仰赖对来自5G网路、资料中心、商用及军用飞机、太空飞行器、通讯卫星和计量测试应用的频率讯号进行精确测量。

这款全新的测试仪器能够检测高达200MHz的射频讯号，可快速捕获频率讯号，并对相位杂讯、频率抖动、艾伦偏差（ADEV）和时间偏差等进行快速而精确的特性分析。只需一台分析仪和几分钟时间，便可对特定频率的所有属性进行完整的特性分析。

53100A型相位杂讯分析仪支援多种配置，可用一种叁考讯号同时检测三种不同的待测讯号，测试能力和稳定性均有提升。该设备体积小巧，尺寸仅为344 x 215 x 91毫米（13.5 x 8.5 x 3.6英寸），很容易整合在各种自动测试设备（ATE）系统中，同时具备足够强大的测量能力，可胜任实验室级别的计量测试工作。

53100A型分析仪的介面向下相容，与Microchip的51xxA系列测试套件共用相同的命令和资料流程，进而大大降低了对现有ATE基础架构进行重新设计的需求。

53100A型相位杂讯分析仪使用非常灵活，可透过前端面板连结一个频率标准不同於待测装置的叁考设备，这样就可以用同一个叁考为不同的振荡器做特性分析。可用做叁考的设备包括艏原子频率标准（比如Microchip的8040C-LN）或者石英振荡器（如Microchip的1000C型??温晶体振荡器（OCXO）），同时也支援其他厂商的精确振荡器产品。

53100A型相位杂讯分析仪现已上市。Microchip为产品提供技术支援服务和延长保固服务。