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【CTIMES/SmartAuto 蕭惠文报导】   2011年10月19日 星期三

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河洛半导体日前推出HV-256 IC测试机,此产品针对逻辑或混合讯号IC之测试需要而设计,可透过USB 2.0和PC链接,在测试软件环境ITE(Integrated Test Environment)下,提供工程开发、量产测试失败分析及良率改善等功能。

河洛表示,此机支持TTL、GPIB、RS232等通讯接口,可与坊间组件分类机(如HI-LO HL-930等)或晶圆针测机(如TSK Prober)链接,可对16个待测组件同时进行测试量产。

HV-256 IC测试机可进行DC、AC及功能性测试。256个测试信道可提供电压表、电压/电流检测、恒压、恒流源流出/流入、上拉/下拉电阻、主动负载、时间参数测量、并内建任意波形产生器及波形量化器等功能,提供高规格性价比。机台体积精简,能因应待测IC特定需求,具客制化之弹性。

關鍵字: 河洛 
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