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NI 樹立 SMU 新標竿
相較於類似的箱型儀器,NI PXIe-4139 以至少兩倍的通道密度提供 100 倍的取樣速度。

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2014年05月19日 星期一

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NI 美商國家儀器推出 NI PXIe-4139 系統電源量測單位 (SMU),NI SMU 系列的高效能產品。這款 SMU 可協助測試工程師縮短整體的測試成本,同時加快上市速度,適用於半導體、汽車、消費型電子等多種產業。

「有了 NI PXIe-4139,工程師和科學家即可享有廣大的 IV 範圍,像是高達 500 W 的脈波產生功能,以及 100 fA 的靈敏度,透過單一儀器即可測試多種裝置」,NI 測試系統的資深部門經理 Luke Schreier 表示:「NI PXIe-4139 的精巧機身也是關鍵之一:相較於舊款箱型儀器的 SMU,有助於大幅減少系統體積。」

NI PXIe-4139 搭載了 NI SourceAdapt 技術,可幫助工程師客制化 SMU 控制迴路,針對各種負載產生最理想的 SMU 響應。這麼做有助於保護待測裝置,提高系統的穩定性。此外,NI PXIe-4139 系統 SMU 可以 1.8 MS/s 的速度執行量測,比傳統的 SMU 快了 100 倍,不但能夠縮短測試時間,還可以幫助工程師掌握暫態裝置的行為,不需要額外設備。

「如果想要隨時掌握越來越複雜的現代電子裝置,就會需要全新的儀器思維」,Schreier 指出:「有了 SourceAdapt 技術,再加上 PXI 模組化儀器和 NI LabVIEW 系統設計軟體固有的優勢,工程師即可縮短測試時間、保護待測裝置,藉此享有絕佳的競爭優勢。」

【重點功能】

‧ 100 fA 的電流量測靈敏度:針對高效能半導體裝置執行精準的特性測試。

‧ 1.8 MS/s 取樣率:掌握暫態裝置特性,不需要額外設備。

‧ 4U 的 19 吋機箱空間可容納高達 17 個 SMU 通道:盡可能降低多通道數系統的體積。

‧ SourceAdapt 技術:縮短暫態時間,藉此縮短整體的測試時間,保護待測裝置不會因為過衝和震盪而受損,就算是高電感或高電容負載也一樣。

關鍵字: SMU  NI 
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