帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
R&S和VIAVI共同支援新O-RU無線電單元設計
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2022年12月22日 星期四

瀏覽人次:【1983】

在最近舉行的i14y Lab開放無線網路服務平台PlugFest(這是O-RAN ALLIANCE 2022年秋季全球PlugFest的一部分)上,Rohde & Schwarz(簡稱R&S)和VIAVI Solutions公司結合能力為O-RAN無線電單元(O-RU)的一致性測試提供綜合解決方案。利用該自動化測試解決方案,他們能夠同時滿足O-RAN和3GPP預一致性規範,對ADI創新的8T8R O-RU參考設計和開發套件進行驗證。

Rohde & Schwarz和VIAVI Solutions成功驗證了共同開發的O-RU自動測試平台。(source:i14y Lab)
Rohde & Schwarz和VIAVI Solutions成功驗證了共同開發的O-RU自動測試平台。(source:i14y Lab)

歐洲O-RAN和TIP PlugFest 2022秋季聯合會議由i14y Lab組織。i14y Lab是一個產業聯盟,旨在建立一個由德國和歐洲其他各國供應商和系統整合商組成的生態系統,加速網路開放和Open RAN發展。德國電信和歐洲高階網路測試中心(EANTC)對該聯盟提供支援。技術供應商(如模擬裝置公司)能夠使用R&S和VIAVI Solutions的測試和測量(T&M)解決方案驗證其平台的一致性。

成功案例之一是對O-RAN無線單元(O-RU)進行自動驗證。網路分解帶來了新的挑戰,它要求不同供應商的網路裝置之間具有互聯性。不斷髮展的O-RU需要同時符合3GPP和O-RAN標準。O-RAN聯盟定義的前傳一致性測試可確保新興的O-RU設計與O-RAN分散式單元(O-DU)具有互聯性。

為了解決多種應用場景,Analog Devices開發一個特別靈活的O-RU參考設計。ADRV904x-RD-RUMB 8T8R O-RU參考設計和開發套件支援時分雙工(TDD)以及頻分雙工(FDD)模式和多個頻段,包括從600 MHz到6 GHz的所有FR1頻率,它還包括一個完整的O-RAN RU Split 7.2 x split,用於4G & 5G NR標準。

Rohde & Schwarz和VIAVI積極參與O-RAN聯盟和3GPP的規範開發。他們共同開發了一個O-RAN一致性測試解決方案,已被用於支援幾個開放測試和整合中心(OTIC),並在O-RAN PlugFest上用於驗證Analog Devices的O-RU參考設計。

在i14y Lab Open RAN PlugFest上,這款測試平台驗證了Analog Devices的O-RU參考設計,滿足開放前沿網路介面工作組WG4定義的O-RAN一致性測試規範。包括FDD和TDD工作模式的控制和使用者平面(CU-Plane)。此外,該設定支援來自3GPP TS 38.141-1基站(BS)的測試案例進行一致性發射器測試。

Rohde & Schwarz無線通訊市場副總裁Alexander Pabst表示:「像Analog Devices這樣的Open RAN創新者需要強大的O-RU測試解決方案,以驗證其設計在分解的多廠商網路中實現順利互通。位於柏林的i14y Lab是測試、協調和驗證Open RAN解決方案的有效合作空間。我們很榮幸能成為i14y Lab的聯盟夥伴。他們與合作伙伴一起為所有Open RAN行業的參與者提供了更多的靈活性、創新和選擇。」

VIAVI無線營運副總裁Stephen Hire表示:「Open RAN技術已經在新建部署中證明了自己,但要實現主流突破,它需要展示出靈活性,以適應廣泛的頻譜分配和4G與5G的不同組合。像Analog Devices的O-RU這樣的靈活設計有助於實現這一目標。」Stephen Hire表示合作支援Analog Devices公司和i14y展示自動化平台,幫助客戶有效證明其產品符合3GPP和O-RAN ALLIANCE規範。

關鍵字: O-RU  R&S  VIAVI 
相關產品
R&S推出RT-ZISO隔離探針測量系統 用於快速切換信號精確測量
R&S新款3GPP 5G一致性測試解決方案縮小設備占地面積
R&S攜手高通測試3GPP Rel. 17 GSO和GEO衛星晶片組
R&S信號產生器和分析儀被批准用於測試5G RAN平台
R&S於EMV 2023展示EMI測試接收器 大幅減少測試時間
  相關新聞
» Anritsu Tech Forum 2024 揭開無線與高速技術的未來視界
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BT46FA4GSTACUKO
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw