帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
Tektronix發行第一套實體層測試程序
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2008年11月06日 星期四

瀏覽人次:【1604】

測試、量測及監測儀器廠商Tektronix宣佈發行Serial ATA 3.0版標準實體層測試的第一套測試程序。Tektronix針對SATA實體層設計和偵錯提供完善的高速串列資料測試組合。

Tektronix第一套測試程序Serial ATA 3.0版標準實體層測試
Tektronix第一套測試程序Serial ATA 3.0版標準實體層測試

Serial ATA儲存介面的第三代規格最大傳輸速度將從3Gb/s倍增至6Gb/s,準備邁向更高性能的儲存解決方案,包括新的固態磁碟機和企業商業儲存需求。SATA 6Gb/s技術將可以更快的速率移動大量資料,對於高解析度相片、視訊、音樂和其他多媒體檔案數量永遠在增加的一般使用者而言是一大福音。新的產業標準將加強高性能、低成本介面的訴求,擴大它在數位世界長期儲存介面的普及性。

Tektronix提供的高速串列資料技術(包括SATA 6Gb/s)實體層測試功能。例如,Tektronix AWG7000B任意波形產生器系列及其精細解析度的定序程式可獨特地與複雜的狀態機互動,進行6Gb/s主機和磁碟的連結狀態訓練。此外,Tektronix DSA/DPO70000示波器系列具獨特多通道機型,可擷取等於或高於5次諧波的6Gb/s傳輸訊號,提供嚴格的符合性和偵錯測試的更大極限和保真度。

從2008年9月開始於加州Milpitas的SATA-IO Plugfest將使用Tektronix的SATA 3.0標準實體層測試用高速串列測試工作台,進行初步實體層測試。

關鍵字: 量測  儀器  SATA  波形產生器  示波器  串列測試  Tektronix(太克
相關產品
Tektronix全新遠端程序呼叫式解決方案從測試儀器迅速傳輸資料
太克4系列B混合訊號示波器 提供更快分析和資料傳輸速度
Tektronix推出增強型KickStart Battery Simulator應用程式
Tektronix宣布推出全新TMT4邊限測試儀 簡化並加速PCIe測試
Rohde & Schwarz推出全新R&S MXO 4系列高速示波器
  相關新聞
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
» DEKRA德凱斥資10億新建總部與實驗室 提供一站式測試檢驗服務
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.3.144.89.152
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw