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安捷倫與Altair合作促使LTE和測試設備更上一層樓
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎報導】   2011年02月14日 星期一

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安捷倫科技(Agilent)與Altair半導體於日前共同宣佈,雙方將使用Altair的4G LTE晶片組及安捷倫的PXT無線通訊測試儀和N6070A系列信令符合性測試軟體,來執行相互操作性測試與驗證測試。在兩家公司的共同努力下,將可加速LTE裝置和測試解決方案朝新的操作頻帶發展。

Altair的LTE晶片產品組合包含FourGee-3100基頻晶片組,及FourGee-6200 RFIC晶片組。FourGee-3100為3GPP LTE基頻處理器,支援LTE第3類所規定的速度(DL/UL分別為100Mbps/50Mbps)。該晶片實作一個20-MHz的MIMO接收器,並採用專屬、尖端的O²P軟體無線電處理器。

該處理器所提供的效能,遠超過傳統的通訊DSP核心,但只消耗非常少量的電力。FourGee-6200是一款多頻帶的射頻收發器,支援700 MHz到2700 MHz之間的任何3GPP LTE頻帶。該晶片組支援LTE標準的FDD和TDD版本,連同Altair的軟體堆疊,已經與基礎建設設備的領導廠商所提供的產品,就多頻帶與雙工配置進行廣泛的相互操作性測試。

隨著網路業者將LTE引進到新的頻譜配置,新的終端使用者裝置必須利用已經驗證過的測試平台,來進行每個頻帶、頻寬與雙工安排(FDD和TDD)的認證。除了相互操作性測試之外,Altair的晶片組還可以用來驗證在Agilent N6070A系列信令符合性測試解決方案上執行的3GPP測試案例。

關鍵字: 安捷倫(AgilentAltair 
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