帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
力浦推出全新超低感量繞線元件測試儀
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎報導】   2011年08月22日 星期一

瀏覽人次:【3815】

力浦電子(Leaptronix)於日前宣佈,推出全新超低感量繞線元件測試儀。其以 2μH低電感及100MHz 高速取樣技術,將可提高局部放電檢測的精準度。

力浦推出全新超低感量繞線元件測試儀
力浦推出全新超低感量繞線元件測試儀

該公司並表示,該款測試儀可依據需求調節提供 200V~5000V 可程式脈衝測試電壓,並以低能量測試避免對線圈產生毀損。此外,IWT-5000A 具備四種判別演算法比較,包括面積比、面積差比、電暈量比以及電暈數比,使用者可快速根據參數分析進行線圈優劣的判斷及決定對策。

此外,該新產品並提供了RS-232介面可直接與PC連線,標準的文字型指令加速控制程式撰寫、資料傳送、並建立測試系統;其外部I/O控制功能,採D-Sub 9-Pin Connector,更可直接與自動/半自動測試設備連接。IWT-5000A以全數位設計僅需USB連線即可上傳或下載波型參數至電腦進行分析,該款產品適用從研發、品保到生產檢驗皆可。

關鍵字: 力浦 
相關產品
力浦新萬用燒錄器針對觸控IC提出完整燒錄驗證方案
力浦電子推出全新口袋型萬用IC燒錄器
力浦IC自動燒錄設備 獨創旋轉式機械手臂獲專利許可
  相關新聞
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
» DEKRA德凱斥資10億新建總部與實驗室 提供一站式測試檢驗服務
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.18.226.150.136
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw