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揚智USB2.0 IDE控制晶片在美國USB-IF相容性測試大會通過認證
即日起進入量產供貨

【CTIMES/SmartAuto 黃明珠報導】   2002年01月31日 星期四

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國內主要知名系統晶片廠商-揚智科技宣佈其高整合USB2.0多功能IDE周邊控制晶片,在美國USB-IF相容性測試大會(Compliance Workshop)中,經過近百項的USB產品相容性測試與嚴格電氣特性檢驗下,成功通過認證,並在信號品質表現與系統相容性評價獲得極優異的評價。同時,即日起宣佈進入量產供貨,滿足客戶需求。

揚智表示,數家使用揚智USB2.0多功能IDE周邊控制晶片先期客戶的周邊產品,亦順利在此次美國USB-IF相容性測試大會中,全數獲得認證通過,現已完成量產規劃,並將於近期相繼出貨,充份彰顯揚智在周邊專業領域的整體系統支援能力與產品解決方案的成熟度。未來,揚智亦將陸續推出有關高速影像儲存周邊與多媒體應用的系列產品,以持續發揮揚智在資訊多媒體周邊與消費性電子領域的系統整合優勢。

揚智USB2.0多功能IDE控制晶片,因內建高速高效能微控器與多功能整合介面,配合低電壓、低功率消耗的CMOS製程技術特色,充分發揮USB2.0的全頻寬(480MHz)傳輸效能與可攜式產品應用的優勢,而可使用於包含IDE/ATA/ATAPI等相容介面的儲存周邊元件,或經由高速8/16-bit PIO/DMA等多功能控制介面,完全發揮USB2.0最佳傳輸績效(60M byte/sec),應用於諸如高階影像掃描器,印表機,數位相機,多功能機(MFP),數位影印機,系統內嵌(all-in-one)或網路/通訊系統等多功能應用上。

關鍵字: 揚智科技  I#!!**#O界面處理器 
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