帳號:
密碼:
最新動態
 
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
KLA-TENCOR利用PUMA 9000重新定義SUB-65-NM ERA
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2005年07月22日 星期五

瀏覽人次:【1650】

KLA-Tencor公司發表全新的Puma 9000產品晶圓檢測系統。Puma 9000將高度模化與可擴充的架構與KLA-Tencor創新的暗視野成像Streak技術加以結合,在生產量方面可以獲得關鍵缺陷擷取。Puma 9000可提供全球晶圓廠所安裝的 30 種以上系統中的邏輯與記憶體晶片—如此也使得它成為 KLA-Tencor 歷史中銷售成長最快速的新產品之一。

Hynix 半導體是 KLA-Tencor 的早期合作夥伴之一,其針對先進的記憶體開發測試系統功能的完整範圍。「Puma 能夠讓我們的研發小組即使面對每日龐大的處理工作,仍然能夠偵測到極小的重大瑕疵。」Hynix的執行副總裁Sung Wook Park如此表示:「Puma也因此在我們的70-nm DRAM與Flash裝置的開發與生產中扮演重要的角色。因此,我們的研發部門與先進的 300-mm 生產線中都已採用此工具。」

關鍵字: 儀器設備  測試系統與研發工具 
相關產品
安勤最新伺服器主機板搭載AMD處理器 結合運算效能與能源效率
ROHM新款SiC蕭特基二極體支援xEV系統高電壓需求
西門子下一代AI增強型電子系統設計軟體直觀且安全
貿澤與ADI合作全新電子書探索電子設計電源效率與耐用性
英飛凌首款20 Gbps通用USB周邊控制器提供高速連接效力
  相關新聞
» Anritsu Tech Forum 2024 揭開無線與高速技術的未來視界
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先進電源應用套件 加速電池測試和設計流程
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.18.219.86.191
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw