太克科技今日宣布推出全新的产品类别，将彻底革新PCI Express测试，显着改善产品的上市时间、成本和可触及性。全新的TMT4边限测试仪（TMT4 Margin Tester）打破了PCIe测试的惯例，提供了快速的测试时间。即??即用的设定和易於使用的介面相结合，让目前还需要数小时甚至数天的设定和测试，将能在几分钟内就得到结果。

Tektronix宣布推出突破性边限测试解决方案，简化和加速PCIe Gen 3和Gen 4测试的全新方法

Tektronix??总裁兼产品组合解决方案总经理Chris Witt表示：「TMT4边限测试仪（TMT4 Margin Tester）是太克科技落实如何继续开发创新测试设备、推进技术解决方案，以加速进步，并以独特方式解决实际问题的最新范例。TMT4边限测试仪将能使工程师能更轻松、更快速地推动科技的进步。」

TMT4边限测试仪（TMT4 Margin Tester）是用於设计和验证PCIe Gen 3和Gen 4主机板、附加卡和系统设计的的专业测试工具，为PCIe测试开辟了新天地。

虽然PCIe测试通常需要复杂的测试系统和具有深厚专业知识的工程师，但TMT4边限测试仪使具有各种经验层级的工程师，能够比以往更快地评估发射器（Tx）和接收器（Rx）连结的运作情况，进而显着地缩短了上市时间并降低拥有成本。

此平台支援大多数常见的PCIe外形尺寸，包括CEM、M.2、U.2和U.3，可使用单一标准连接器在PCIe预设集0-9中测试多达16个通道。

Tektronix TMT4边限测试仪在PCIe测试方面展现了无与伦比的速度和多功能性，使其成为在设计和验证期间更早期、更频繁地评估板端或系统层级连结运作情况的绝隹选择。TMT4测试仪旨在补强由示波器和BERT组成的完整验证和相容性测试系统，使其能在使用传统设备进行深入检查之前，能在设计过程中及早发现问题。

新技术比以往任何时候都更加复杂，需要大量时间和专业知识来进行验证。全新的TMT4边限测试仪让各个专业层级的工程师能够以Gen 4速度，在短短20分钟内跨多达160个通道和预设集组合测试PCIe装置。多通道测试功能让使用者能透过减少执行测试所需的连接变更次数，显着改善整体测试时间。

Intel嵌入式加速事业部??总裁兼总经理Rina Raman表示：「我们的团队深知取得早期深入分析和更快、更可靠结果的重要性，全力支援Tektronix开发这项新产品类别。Tektronix TMT4边限测试仪解决方案构建於Intel Stratix 10 FPGA和PCIe之上，易於我们的工程师使用，并且在大多数情况下，只需几分钟即可获得结果，而不需耗费漫长的数小时。 我们已经看到了此产品在设计过程中更早发现设计问题的好处。」