NI 美商国家仪器推出NI PXIe-4139 系统电源量测单位(SMU)，NI SMU 系列的高效能产品。这款SMU 可协助测试工程师缩短整体的测试成本，同时加快上市速度，适用于半导体、汽车、消费型电子等多种产业。

「有了NI PXIe-4139，工程师和科学家即可享有广大的IV 范围，像是高达500 W 的脉波产生功能，以及100 fA 的灵敏度，透过单一仪器即可测试多种装置」，NI 测试系统的资深部门经理Luke Schreier 表示：「NI PXIe-4139 的精巧机身也是关键之一：相较于旧款箱型仪器的SMU，有助于大幅减少系统体积。」

NI PXIe-4139 搭载了NI SourceAdapt 技术，可帮助工程师客制化SMU 控制回路，针对各种负载产生最理想的SMU 响应。这么做有助于保护待测装置，提高系统的稳定性。此外，NI PXIe-4139 系统SMU 可以1.8 MS/s 的速度执行量测，比传统的SMU 快了100 倍，不但能够缩短测试时间，还可以帮助工程师掌握暂态装置的行为，不需要额外设备。

「如果想要随时掌握越来越复杂的现代电子装置，就会需要全新的仪器思维」，Schreier 指出：「有了SourceAdapt 技术，再加上PXI 模组化仪器和NI LabVIEW 系统设计软体固有的优势，工程师即可缩短测试时间、保护待测装置，借此享有绝佳的竞争优势。」

【重点功能】

‧ 100 fA 的电流量测灵敏度：针对高效能半导体装置执行精准的特性测试。

‧ 1.8 MS/s 取样率：掌握暂态装置特性，不需要额外设备。

‧ 4U 的19 吋机箱空间可容纳高达17 个SMU 通道：尽可能降低多通道数系统的体积。

‧ SourceAdapt 技术：缩短暂态时间，借此缩短整体的测试时间，保护待测装置不会因为过冲和震荡而受损，就算是高电感或高电容负载也一样。