账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
Tektronix推出SAS兼容性测试适用的单键解决方案
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍报导】   2010年02月03日 星期三

浏览人次:【6362】

Tektronix今(3)日宣布自动兼容性和测试自动化解决方案,现在跨越SATA和SAS(串行连接SCSI)标准,包括由UNH-IOL和SCSI商业协会(STA)所定义广泛的SAS兼容性测试。使用最新的TekExpress软件,储存系统设计人员只需按一个键即能完成这些测试,确保准确和一致的结果,可节省设定时间,不会浪费时间在重复的手动测试。

Tektronix表示,适用于SAS标准的TekExpress软件,提供广泛的物理层发射器和信道量测功能,让资深工程师不需要密切监测测试规格的开发。相反地,所有必要的测试已经在软件中得到充分执行,而且可立即存取。6Gb/s SAS自动兼容性解决方案包括以下测试:

•第一组:频外(OOB)量测

•第二组:Tx展频频率(SSC)需求

•第三组:Tx NRZ数据发讯号要求和交流参数量测

Tektronix提供3Gb/s SAS和6Gb/s SAS兼容性测试所需的高效能示波器和讯号产生器,包括超过10GHz带宽的实时示波器(DSA70000系列数字串行分析仪),及可进行接收器测试和全自动化测试的选配高速串行讯号产生器(AWG7000系列任意波形产生器)。

只需使用TekExpress软件即可设定并执行SAS和SATA兼容性测试,测试仪器便可透过TekExpress自动化平台系统监控所有状况。TekExpress图形用户接口提供一个可供设定和测试的常见直觉式工作流程,一旦设定好测试台,待测装置也连接妥当,用户只要按下「执行」按钮,即可以选定的SAS或SATA测试套件执行量测,自动产生详细的HTML报告和计分卡。

關鍵字: SAS兼容性测试  Tektronix 
相关产品
Tektronix全新远端程序呼叫式解决方案从测试仪器迅速传输资料
太克4系列B混合讯号示波器 提供更快分析和资料传输速度
Tektronix推出增强型KickStart Battery Simulator应用程式
Tektronix宣布推出全新TMT4边限测试仪 简化并加速PCIe测试
Tektronix PCI 6.0接收器测试解决方案 满足下一代高效能需求
  相关新闻
» Tektronix电源仪表新突破 协助客户在日益电气化的世界快速创新
» Anritsu Tech Forum 2024 揭开无线与高速技术的未来视界
» 安立知获得GCF认证 支援LTE和5G下一代eCall测试用例
» 资策会与DEKRA打造数位钥匙信任生态系 开创智慧移动软体安全商机
» 是德科技推动Pegatron 5G最隹化Open RAN功耗效率
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BP7X69GOSTACUKY
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw