意法半导体（STMicroelectronics；ST）进一步扩大其环境传感器的产品阵容，推出可直接数字输出紫外线指数（Ultraviolet Index；UVI）的传感器：UVIS25。紫外线指数是在某一时间地点受到太阳紫外线辐射强度的国际测量标准。

/news/2015/03/12/1110403770S.jpg

过度暴露于紫外线的照射会导致人体出现暂时性的黑斑，甚至可能引发更严重的病症。紫外线指数是由世界卫生组织（World Health Organization；WHO）和世界气象组织（World Meteorological Organization；WMO）在1990年代中期所制定、发布实施的太阳光紫外线照射预防标准，旨在指导人们采取正确的防晒措施，预防紫外线辐射危害人体健康。

UVIS25是一款尺寸极小的紫外线数字传感器，目标应用锁定所有紫外线感测市场，包括穿戴式装置、智能型手机、平板计算机及气象站设备。凭借意法半导体的专利技术，新产品能够感测波长200－400nm的紫外线，包括对人体健康危害最大的UV-A波长（315-400nm）与UV-B波长（280－315nm）紫外线。UVIS25不仅具有紫外线感测功能，还能直接在内部计算紫外线指数（UVI），是无需外部处理算法或是在客户生产在线校正数据的紫外线传感器。

意法半导体高阶传感器及模拟组件产品部总经理Francesco Italia表示：「随着臭氧层越来越稀薄，现在地球受到紫外线辐射的强度与频率都变得更高。这款新的紫外线传感器证明，意法半导体能够协助设备厂商研发创新产品与应用，让人们更了解太阳光对人体的益处及潜在危害，让人们在适度享受阳光、迎向更健康的生活。」

UVIS25传感器的主要技术特性包括：分辨率仅1/16的0-15 UVI输出范围，SPI和I2C接口，1.7－3.6 V电源电压以及UVI数值每秒更新一次。新产品采用2.5 x 2.5 x 0.76 mm的LGA-10L透明塑料封装。

UVIS25样品已开始提供，产品预计于2015年第二季末量产。