账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
Tektronix高性能示波器新增抖动分析软件
 

【CTIMES/SmartAuto 报导】   2005年02月17日 星期四

浏览人次:【1383】

Tektronix, Inc.发表TDSJIT3第2版(TDSJIT3 v2),一套在高性能Tektronix示波器上提供快速、准确及易用的抖动与时序量测的软件组件。TDSJIT3 v2里的量测精灵采用先进的Tektronix专业知识,提供您实现快速及易于抖动量测与分析的逐步指引。

/news/2005/02/17/1754548945.jpg

工程师与技术人员必须有效地设计、侦错及测试装置,务求缩短上市时程、降低开发成本、提高制程效率及产品质量。其中一项关键要素是装置、组件和系统时序噪声(抖动)的量测与特性分析。抖动量测占有举足轻重的地位其应用包括串行与并列系统内存总线(例如PCI-Express、DDR及Rambus所使用的) 的标准符合性测试与侦错。

Tektronix示波器产品副总裁Colin Shepard表示:「即使在复杂的频率与数据讯号上,TDSJIT3 v2一样能够有效地量测抖动,帮助客户达到生产力的新境界。工程师与技术人员利用量测精灵,能够迅速地分析频率与数据讯号上的复杂抖动,更容易执行深入的设计、侦错、特性分析及设计验证。」

關鍵字: Colin Shepard  測試系統與研發工具 
相关产品
Tektronix全新数字荧光示波器问世
Tektronix将MyScope窗口控制接口推展至示波器上
Tektronix将多项分析技术特长融入RT-Eye软件中
太克科技提供Pinpoint触发系统下载服务
  相关新闻
» Anritsu Tech Forum 2024 揭开无线与高速技术的未来视界
» 安立知获得GCF认证 支援LTE和5G下一代eCall测试用例
» 资策会与DEKRA打造数位钥匙信任生态系 开创智慧移动软体安全商机
» 是德科技推动Pegatron 5G最隹化Open RAN功耗效率
» 是德科技PathWave先进电源应用套件 加速电池测试和设计流程
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8BP9PFVXWSTACUK7
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: webmaster@ctimes.com.tw