安捷伦科技（Agilent）与FuturePlus共同发表DDR3 1866 DIMM插入式测试解决方案。这项新工具结合了Agilent 16962A逻辑分析仪模块和FS2352插入式分析测试探棒，以支持下一代双倍数据速率（DDR）SDRAM总线之分析与测试。新款DDR3 1866 DIMM插入式探量解决方案可供服务器、超级计算机、桌面计算机，及计算机应用的设计人员使用，以有效执行DIMM验证、错误分析，以及总线功能性参数验证。

安捷伦与FuturePlus合推DDR3总线除错解决方案

为搭配Agilent 16900系列逻辑分析仪使用而设计的FS2352分析测试探棒，可提供高达1866 MT/s的状态分析与协议译码。FuturePlus FS2352是唯一被证实可使用安捷伦逻辑分析仪，提供可靠的1866 MT/s DIMM数据撷取之DDR3插入式分析测试探棒。该DDR3测试平台提供了全信道2.0GT/s 16962A逻辑分析模块、DDR3 BGA和DIMM适用的完整探量产品、以及首款DDR3兼容性与效能测试软件环境。

Agilent 16962A逻辑分析模块，提供2.0GT/s状态速度和2GHz触发序列速度，用户可利用其完整功能，能够可靠地触发与撷取DDR3 1600信号。将该模块搭配新的DDR3探量解决方案和分析软件工具使用，可为内存产业提供完整的系统整合测试能力。