是德科技（Keysight）日前推出新的DDR4和LPDDR4除错软体，可协助记忆体设计工程师快速执行JEDEC相符性测试，并确认导致测试不通过的问题根源。新的软体工具提供快速的电子、时序和多眼图分析能力，让工程师能精准地找到想要观测的区域或信号，并且进行更深入的分析；同时工程师还可执行统计资料的分析和记录。该除错软体可在Keysight Infiniium 9000A、S系列、90000A、V系列和Z系列等不同示波器上执行。

新的DDR4和LPDDR4除错软体提供快速的电子、时序和多眼图分析能力，可协助工程师迅速执行DDR除错。

对于电脑、伺服器和行动装置产业的工程师而言，这项新工具让他们得以轻而易举地对DDR记忆体装置进行除错，同时还可对多个资料通道进行眼图分析，方便工程师在较小眼图中查看资料，如此不但有助于节省设计成本与时间，并可增进后续的相符性测试。除此之外，工程师也可以同时检视多个资料通道的读写眼图。

Keysight N6462A-3FP DDR4及N6462A-4FP LPDDR4除错软体可使用是德科技示波器储存的波形档，或是W2531EP DDR4 Compliance Test Bench软体的波形档。如果搭配使用W2531EP DDR4 Compliance Test Bench软体，工程师可修正模拟与实际量测之间产生的误差。

台湾是德科技总经理张志铭表示：「这套新的除错软体工具可协助客户快速发现导致其DDR设计失败的问题。这个Keysight DDR 解决方案的新生力军，让我们能在DDR模拟软体之外，提供强大的除错工具，以协助工程师在设计进入制造阶段之前，进行更完善的除错。」

Keysight N6462A-3FP DDR4和N6462A-4FP LPDDR4除错工具现已公开上市，可作为DDR4和LPDDR4相符性测试应用软体的选项。