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创意电子推出90奈米ARM926EJ测试芯片
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍报导】   2006年04月13日 星期四

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SoC设计服务厂商创意电子(GUC, Global Unichip Corp.)近日推出90奈米ARM926EJ硬核(hard-macro)及其测试芯片(testchip)UTP0010A,可大幅缩短系统设计的建构时程,并为ARM核心整合的过程降低许多风险。UTP0010A以可合成的ARM926EJ-S核心码(synthesizable core)设计而成,协助客户在发展90奈米系统单芯片(SoC)的相关产品如低耗电手持装置、影音压缩/解压缩及网络通讯应用等方面,达到缩短下线时程(Time to tapeout)和加速上市时程(Time to market)的目标。

UTP0010A采用台积电90奈米低功率(LP)制程技术,效能表现最高可达250MHZ,配备有1组AHB输出入接口、16KB/16KB I/D caches内存、4KB/4KB I/D TCMs内存(Tightly Coupled Memory)、BGA388封装等基本规格。UTP0010A已在创意电子标准的AMBA-based硅智财/系统单芯片(IP/SoC) GPrimeTM验证平台上,得到完整的工程验证。为了协助客户快速导入设计程序,创意电子将提供测试芯片模块(testchip core module)、规格书(datasheet)、使用手册(application note)、电路板参考设计图(reference board schematics)等设计工具。

创意电子总经理兼营运长赖俊豪表示:「借着推出90奈米ARM926EJ测试芯片UTP0010A,创意电子将继续深耕深次微米的技术领域,提供专业的核心整合设计服务。SoC的设计研发首重时间的争取,UTP0010A将扮演缩短系统建构时程的关键角色。」

關鍵字: 創意電子  赖俊豪  系統單晶片 
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