半导体科技的快速发展，导致传统的测试与修复设备，难以跟上SoC效能及成本的需求；Virage Logic公司日前推出一个SoC内嵌内存系统，此系统同时具备测试(BIST)与修复(BISR)的功能。根据Virage Logic总裁Adam Kablanian表示，「STAR Memory System」是业界第一个可以提供完整SoC内嵌式内存的测试与修复的方案，这将可以使客户减少量产的时间，并同时提高良率。STAR Memory System已经接获订单并交货给客户使用。

对SoC设计工程师而言，他们需要一套好的方式来测试并修复以提高内嵌内存的良率，而STAR Memory System已经将这些功能内建在电路上，所以将不再需要使用昂贵的Memory Tester或Laser Repair Machine，因此减少测试程序的开发时程与缩短产品上市时程。

根据Anoop Khurana技术副总裁表示，「Virage Logic的STAR Memory System不仅减少测试与修复的成本，同时也节省数周的设计与开发时程；因为从Tape Out到量产的时间大大的缩短，这有助于缩短新产品上市的时程！」