NI 国家仪器（National Instruments；NI）作为致力于为工程师与科学家提供解决方案以应对全球最严峻的工程挑战的供应商，推出TestStand半导体模组（TestStand Semiconductor Module），为测试系统工程师提供所需的软体工具来快速开发、布署并维护最佳化的半导体测试系统。

可刻字的现成测试执行新增了多地点装置功能、报表制作与分类机/针测机介面,有助于建立更具智慧效能的测试系统。

借助 TestStand 半导体模组，工程师能运用与半导体测试系统 （STS） 布署在厂房内一样的程式设计方式，在实验室进行特性测试，进而降低建立量测结果关联所需的时间。 TestStand 半导体测试模组（ TestStand Semiconductor Module） 采用全球超过一万名开发人员使用的TestStand 工业标准测试管理软体，帮助用户使用PXI 和TestStand 功能自行搭建半导体测试所需的基架构式系统，而不需要采用STS 传统的「测试头」架构。

「NI 透过开放式软体与模组化硬体，持续降低半导体测试的成本」，NI 半导体测试副理Ron Wolfe 表示：「我们于2014 年推出了STS，为开放式的工业标准PXI 平台新增了半导体专属功能。TestStand 模组是针对半导体特性测试、生产测试的各种需求所设计，现在我们就是运用此模组来提升测试开发的生产力。」

TestStand 半导体模组提供独特的半导体测试功能，有助于降低开发成本、提高产能。 TestStand 半导体模组强化了 NI 在半导体测试上持续成长的服务，其中包含 STS、上百种高效能 PXI 仪器，以及强大的软体，例如 TestStand 与 LabVIEW 系统设计软体。透过更智慧型的 NI 平台方案，半导体厂商便能针对 RF 与混合式讯号测试降低成本、提高产能。

（编辑部陈复霞整理）

产品特色

‧ 动态多点程式设计，能够针对不同数量的测试站点，重复使用程式码

‧ 直觉式的 Pin Map Editor，包含 PXI 与第三方仪控

‧ 标准测试资料格式 （STDF） 结果处理器，能够针对参数测试结果执行工业标准记录