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NI顯示器檢測系統技術研討會圓滿落幕
 

【CTIMES/SmartAuto 馬耀祖 報導】   2002年07月15日 星期一

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NI台灣分公司(美商慧碁)7月份在台北、新竹舉辦2場「顯示器檢測系統技術研討會」日前已圓滿落幕,並於會後獲得廣大迴響。此次研討會除了展示整套檢測系統並現場實際操作示範外,國內許多知名手機、PDA、顯示器等製造廠商亦熱烈參與討論。

National Instruments 發佈的這套功能強大、現成即用的軟硬體整合解決方案—全新的NI顯示器檢測系統 ( NI Display Test ),用於可靠的平面顯示器檢測。NI顯示器測試系統為生產線上及實驗室裏的工程師提供了一套性能超群的測試方案,足以勝任目前及未來各種測試、量測領域的任務需求。

NI顯示器檢測系統提供一整套顯示器組裝前的測試方案—例如,次序排列、像素瑕疵、顏色以及對比度—用於測試手機、掌上型電腦、汽車上的顯示器以及其他可移動終端設備。工程師們用附加在NI顯示器檢測系統中的NI TestStand-現成即用的測試執行管理環境—即可輕而易舉地配置這些測試工作以滿足各種要求。

關鍵字: 顯示器檢測系統  NI  影音測試分析儀器 
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