明導國際(Mentor Graphics)近日表示將為Artisan ComponentsO的嵌入式記憶體產品提供更高階支援;透過Mentor Graphics MBISTArchitect工具協助,Artisan記憶體使用者即可利用記憶體內建自我測試(BIST)功能來診斷和修復製造瑕庛,不但對設計時間的影響最少,還能實現高品質的測試結果和製造良率。根據2001年出版的國際半導體技術藍圖(ITRS),系統單晶片使用嵌入式記憶體的比例正穩定增加,預計2005年時,記憶體將佔系統單晶片設計的71%。由於記憶體使用率不斷提高,廠商需要更有效的記憶體測試和修復方法,透過Artisan Flex-Repair解決方案的記憶體冗餘技術,再利用MBISTArchitect工具提供的內建自我測試功能,系統單晶片設計即可實現更高測試品質,進而增加產品製造良率。
利用MBIST Full-Speed提供的完整偵測技術,MBISTArchitect工具的全速(at-speed)測試能力,再加上各種記憶體測試演算法,包括MBIST Flex的使用者可定義演算法功能,工程師即可發現各種細微瑕疵,並由多餘的記憶元(redundant cell)加以取代。Artisan Components產品技術資深副總裁Dhrumil Gandhi表示,「結合記憶體內建自我測試和冗餘設計,將為我們的客戶帶來一套有效策略,可以改善系統單晶片設計的品質和製造良率。Artisan的Flex-Repair記憶體解決方案採用「開放式標準」界面設計,與業界主要嵌入式記憶體測試解決方案的操作互通性極為良好。Artisan Components非常高興它的Flex-Repair記憶體能獲得Mentor Graphics MBISTArchitect工具支援。」
為協助修復產品瑕疵,MBISTArchitect會產生適當的診斷電路,由它決定任何瑕疵的所在位置,然後將必須更換的記憶體行位置(memory column)輸出,使整個修復過程更簡單;這些診斷資料會被映射至實體座標,再由雷射將錯誤部份的保險線路(fuse)熔斷。為協助這種雷射保險線路(laser fuse)修復方式,Artisan也在它的Flex-Repair記憶體中加入一個「保險線路盒產生器」(Fuse Box Generator),讓使用者能夠儲存記憶體的維修資訊,這個保險線路盒可位於電路的任何地方,並採用最佳化設計來降低功率消耗。