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安捷倫將於2007歐洲微波會議展LTE測試解決方案
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎 報導】   2007年10月02日 星期二

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安捷倫科技(Agilent Technologies Inc.)將在2007年歐洲微波會議中展出多款最新的3GPP LTE測試與量測解決方案。該活動將在10月8-12日於德國慕尼黑2007年歐洲微波週中登場。安捷倫LTE解決方案擁有領先業界的效能和功能,可協助研發工程師針對新一代行動通訊產品,來加速開發他們不斷演進的LTE設計。

安捷倫電子量測事業群總經理申義龍表示:「身為量測產業領導廠商,安捷倫致力於為現今的工程師提供根據LTE有效且有效率地設計產品所需的資源。這些最新款LTE量測解決方案再次證明我們的決心,並使工程師能夠及早掌握此快速發展的技術。」

安捷倫將於會中展示89601A向量信號分析軟體的LTE選項以下的解決方案、針對3GPP LTE推出的N7624B Signal Studio、Agilent 3GPP LTE Wireless Library (E8895),其可支援2007年7月所發佈有關LTE實體層規格在1.4, 1.6, 3.0/3.2, 5, 10, 15和20 MHz頻寬下的標準(36.211 V1.2.1, 36.212 V1.2.3)

一併展示的還有安捷倫LTE Connected Solutions,其整合安捷倫的信號產生和分析設備與ADS模擬環境,為研發工程師提供一套完整的測試解決方案。LTE信號可在使用ADS LTE Wireless Library進行模擬的過程中產生,然後下載到Agilent ESG或MXG信號產生器,以形成待測裝置測試所需之真實的實體信號。這些LTE信號(基頻和RF)可利用安捷倫的邏輯分析儀或VSA軟體來加以分析。

關鍵字: 安捷倫(Agilent申義龍 
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