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光學顯微鏡+SEM+粗糙度儀=KEYENCE雷射顯微鏡!
 

【CTIMES/SmartAuto 編輯部 報導】   2015年08月14日 星期五

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需要做表面微結構觀察的工程師朋友們有福了!針對傳統設備常見的問題, KEYENCE(基恩斯)雷射顯微鏡提出了解決方案。「無需對焦」的全新觀察形式讓顯微鏡觀察不再受景深的限制,即使在高倍率下也只要按下一個按鈕,使用「即時景深合成」功能,即可瞬間取得全對焦影像,解析度更高達24000倍。

KEYENCE雷射顯微鏡「無需對焦」的全新觀察形式讓顯微鏡觀察不再受景深的限制...
KEYENCE雷射顯微鏡「無需對焦」的全新觀察形式讓顯微鏡觀察不再受景深的限制...

除此之外,VK-X系列擁有16位元雷射彩色觀察,透過CCD CAMERA提取雷射獲得的像素,將其轉換為高解析度的彩色圖像,解決SEM黑白圖像難以辨別的問題。使用雷射光束掃描量測也能避免一般粗糙度儀接觸式量 測造成的樣品損傷,直徑僅有0.4um的雷射光束能更精確地量測出細微形狀。

同時因具備自動量測功能,有助於大幅簡化量測的步驟及所需時間。無論是任何人,只需按下按鈕,即可自動執行各種量測功能,初次使用者亦可輕鬆進行最佳條件的分析。KEYENCE雷射顯微鏡VK-X系列,集光學顯微鏡、SEM和粗糙度儀的功能於一身!

[展會訊息]

KEYENCE(基恩斯)於8/26-8/28在2015 TOUCH TAIWAN(攤位號碼 I-820)現場展示。

關鍵字: 雷射顯微鏡  光學顯微鏡  粗糙度儀  基恩斯  KEYENCE  視覺影像控制產品  儀器設備 
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