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光電週LED展區 致茂盛大展出全系列LED測試
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍 報導】   2008年06月11日 星期三

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國內量測儀器大廠致茂電子在今年光電週LED展區,針對當今最熱門的LED產業推出全系列的製程測試解決方案。由於LED具備輕巧、節能、環保、耐用、高亮度等多種優異特性下,逐漸在各個產業的應用上嶄露頭角。以LED的製程來說,從上游的磊晶(EPI)、中游的晶粒(Chip Process)、到下游的封裝(Package),即可完成一個LED模組,並可多樣化地發揮在資訊顯示、光源、照明、通訊傳輸、遙控感測等功能應用上,市場規模相當龐大。

致茂電子所開發的LED測試設備是應用於中游晶片切割前後及晶粒擴張前後,針對晶粒的電性、光學及靜電放電(ESD)測試,並可結合點測機(LED Wafer/Chip Prober)的人性化操作介面,輕鬆快速地檢測LED晶片及晶粒。針對現在最火熱的背光源(light bar)應用,致茂已推出系列機種,能量測light bar模組之電性與光學特性。除此之外,為滿足客戶不同需求,致茂提供各種客製化的LED電性、光學測試設備,降低製造成本,提高客戶在同業的競爭力。

致茂電子於今年台北光電週6月11~13日期間,假台北世貿展館一館完整展出(攤位號碼A211等2個攤位),會中將展示LED一系列測試新產品,有PXI LED測試系統、LED Wafer/Chip點測機…等,展會上將有實機展示。

關鍵字: LED  LED測試  致茂 
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