是德科技（Keysight）日前推出Keysight U4305B PCI Express協定試驗器，以協助工程師加速開發PCIe Gen3系統。U4305B試驗器提供各式各樣的PCIe測試工具，可用來驗證所有鏈路（多達 16 個）的 Gen1、Gen2 和 Gen3 運作效能。這些工具可滿足 PCIe 開發人員的廣泛需求，所提供的測試方法可測試 NVMe（Non-Volatile Memory Express）和 L1子狀態運作等新技術。

試驗器內含L1子狀態驗證軟體讓開發人員有效改善PCIe裝置的電源效率

在部署PCIe的初期階段，開發人員就必須持續關注低功率狀態這項重要特性。現在，PCIe為測試超低功耗（稱為 L1 子狀態）制訂了新標準。該標準使用旁波帶信號CLKREQ#，可關閉時脈甚至消除保持電壓（keeper voltage），讓新的PCIe裝置能提供前所未有的高功率水準。Keysight U4305B試驗器以驗證這些低功耗特性為設計宗旨。內建的測試平台方便工程師對PCIe或NVMe操作部署自動化測試。該測試平台配有腳本程式，可驗證 ASPM 或 PCI-PM L1 子狀態的操作。這些預先編寫的測試腳本可針對各種狀態提供試驗，以獲得關於控制暫存器操作，和每個進入 L1 子狀態/恢復操作的通過/不通過測試結果。

Keysight U4305B 還提供LTSSM 測試套件，讓工程師能執行鏈路協商測試，進而對待測裝置（DUT）的 LTSSM 功能進行全方位測試。此外，它還可驗證 PCIe 狀態轉換和狀態逾時，最多可提供超過 50 種預設 LTSSM 測試，以便深入評估DUT的運作。

台灣是德科技總經理張志銘表示：「Keysight U4305B 試驗器為 PCIe 開發人員提供了更高水準的測試功能。PCIe 裝置的研發需要深入的洞察力，我們的客戶需要強大的工具來協助他們開發最先進的產品。」

測試NVMe時，Keysight U4305B試驗器可模擬主機或裝置，以便送出並執行NVMe命令，或是產生錯誤測試序列。透過標準化的NVMe測試，開發工程師不僅可改善裝置之規格相符性、增強其互通性，同時還可經由各項測試深入洞察裝置的運作情形，進而縮短測試時間。是德科技採用美國新罕布夏大學（UNH）互通性實驗室（IOL）所定義的NVMe相符性測試。這些測試可提供「通過/不通過/警告」等測試結果，以及詳細的診斷資訊，以便改善NVMe驗證品質。

是德科技另亦提供PCI SIG定義的協定測試卡，讓工程師能獲得完整的通過/不通過測試結果，以便驗證PCIe裝置之運作情形。PCI-SIG測試插拔大會亦使用相同的PTC測試套件。

工程師可配置Keysight U4305B試驗器，藉以對傳統和新一代PCIe裝置的子協定層進行測試和除錯。U4305B PCIe試驗器是先進的訊務產生器，方便開發工程師發送和回應TLP、DLLP和實體層封包，以激發PCIe裝置和系統。

Keysight U4305B 還能夠與U4301B PCIe 協定分析儀等其他儀器搭配運作，以建構完整的測試系統。工程師可以同步分析儀和試驗器的測試運作，甚至可用 U4301B 分析儀擷取資料，然後在 U4305B試驗器中播放。

是德科技針對 PCIe 分析儀和試驗器提供增強特性，讓工程師能獲得更齊備的測試工具。例如，是德科技加入了 L1 子狀態測試、資料播放和測試同步，以支援更全面而深入的 PCIe裝置測試與驗證。Keysight U4305B 協定試驗器現已開始供貨。